昂瑞微失效分析实验室建设项目

北京昂瑞微电子技术股份有限公司拟在北京市海淀区上地八街7号院融科融智创新园10号楼一层101房，建设芯片失效分析实验室，旨在对客户使用后失效的、生产低质的、可靠性失效的芯片或模组进行实验分析和测试，以便更有效地服务于本公司研发部门，提升芯片的产品质量。项目总用地面积为70m2，其中实验台、通风橱占地合计约40m2，危化品间占地约5.04m2，其余为公共走廊。