功率半导体晶圆制造大数据良率分析平台项目

整合产品数据分析与工艺控制能力，面向功率半导体晶圆产线建设全流程良率管控平台。对接MES、测试、WAT、缺陷检测及工艺设备多源数据，实现良率溯源、SPC质量管控、工艺参数关联分析与工艺调节优化，解决数据孤岛、工艺漂移、良率波动等痛点。涵盖数据治理、良率分析、工艺监控与调节、产线场景部署等，对接产线关键设备与业务系统，支撑万级批次数据处理，实现多源数据汇聚与核心功能落地。