SiC衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备评标结果公示公告

【中国国际招标网】
项目名称：SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备
招标项目编号：0664-2640SUMECA96/01
招标范围：SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备
招标机构：苏美达国际技术贸易有限公司
招标人：北京天科合达半导体股份有限公司
开标时间：2026-06-02 14:00
公示开始时间：2026-06-04 11:09
评标公示截止时间：2026-06-08 23:59
中标候选人名单：

候选人排名	投标商名称	制造商	制造商国别及地区
1	杭州创锐光谱科技集团有限公司	杭州创锐光谱科技集团有限公司	中国